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Aehr Test Systems是一家为老化和测试逻辑、光学和内存集成电路提供测试系统的供应商,在全球安装了大约2,500个系统。该公司的产品包括ABTS系统,用于低功率和高功率逻辑器件以及所有常见类型的存储器件的封装部件的生产和鉴定测试;FOX-XP系统,是一个全晶圆接触和单片芯片/模块测试和老化系统,用于复杂器件的老化和功能测试,例如尖端存储器、数字信号处理器等;WaferPak接触器,这是一种全晶圆探针卡,能够测试晶圆,使集成电路(IC)制造商能够在Aehr Test FOX系统上对全晶圆进行测试和老化,以及定制设计的可重复使用的DiePak载体用于FOX-XP系统的测试板,使IC制造商能够执行单片芯片和模块的测试/老化。
名称 | 年龄 | 任期 | 标题 |
---|---|---|---|
Gayn Erickson | 57 | 2012 | President, CEO & Director |
Laura A. Oliphant | 60 | 2019 | Independent Director |
Howard T. Slayen | 76 | 2008 | Independent Director |
Geoffrey Gates Scott | 74 | 2020 | Independent Director |
Fariba Danesh | 64 | 2021 | Independent Director |
Rhea J. Posedel | 81 | 1977 | Founder & Independent Chairman |
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